ПОИСК по КЛЮЧЕВОМУ СЛОВУ.
База данных: Электронный каталог ГБОУ ИРО Краснодар
Страница 1, Результатов: 1
М 59
Микроэлектроника : учеб. пособие для втузов : в 9 кн. / под ред. Л. А. Коледова. - Москва : Высшая школа.
Кн. 5 : Качество и надежность интегральных микросхем / И. Я. Козырь. - 1987. - 144 с. : ил. - (Микроэлектроника ; кн. 5). - Библиогр.: с. 142. - (в пер.) : 0.25 р.
Рубрики: Надежность--Учебники и пособия
Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА
Аннотация: В пособии приведены сведения об основных понятиях теории и количественных показателях качества и надежности интегральных микросхем; рассмотрены методы контроля качества, расчета и оценки надежности, а также вопросы прогнозирования и повышения показателей качества и надежности ИМС и БИС.
Доп.точки доступа:
Коледов, Л. А. \под peд.\
Коледов, Л. А. \ред.\
Экземпляры всего: 1
А (1)
Свободны: А (1)
1.

Подробнее
32.84
М 59
Микроэлектроника : учеб. пособие для втузов : в 9 кн. / под ред. Л. А. Коледова. - Москва : Высшая школа.
Кн. 5 : Качество и надежность интегральных микросхем / И. Я. Козырь. - 1987. - 144 с. : ил. - (Микроэлектроника ; кн. 5). - Библиогр.: с. 142. - (в пер.) : 0.25 р.
ББК 32.84
Рубрики: Надежность--Учебники и пособия
Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА
Аннотация: В пособии приведены сведения об основных понятиях теории и количественных показателях качества и надежности интегральных микросхем; рассмотрены методы контроля качества, расчета и оценки надежности, а также вопросы прогнозирования и повышения показателей качества и надежности ИМС и БИС.
Доп.точки доступа:
Коледов, Л. А. \под peд.\
Коледов, Л. А. \ред.\
Экземпляры всего: 1
А (1)
Свободны: А (1)
М 59
Микроэлектроника : учеб. пособие для втузов : в 9 кн. / под ред. Л. А. Коледова. - Москва : Высшая школа.
Кн. 5 : Качество и надежность интегральных микросхем / И. Я. Козырь. - 1987. - 144 с. : ил. - (Микроэлектроника ; кн. 5). - Библиогр.: с. 142. - (в пер.) : 0.25 р.
Рубрики: Надежность--Учебники и пособия
Кл.слова (ненормированные):
ФИЗИКА
Аннотация: В пособии приведены сведения об основных понятиях теории и количественных показателях качества и надежности интегральных микросхем; рассмотрены методы контроля качества, расчета и оценки надежности, а также вопросы прогнозирования и повышения показателей качества и надежности ИМС и БИС.
Доп.точки доступа:
Коледов, Л. А. \под peд.\
Коледов, Л. А. \ред.\
Экземпляры всего: 1
А (1)
Свободны: А (1)
Страница 1, Результатов: 1
Все поступления за
Или выберите интересующий месяц